Orbit

年度 2006
全部作者 Yuh-Chung Hu*, Wei-Hsin Gau, and Wei-Hsiang Tu
論文名稱 “Mechanical Characterization of Thin Films by the Capacitance-Voltage Measurement of Microstructures,” Materials Science Forum, 505-507, pp.145-150 (2006). (SCI IF=0.399)
發表日期 1970-01-01
檔案
  • 287_62eadc7e.pdf